A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀
更新時間:2025-01-21
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A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀去創新,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測足夠的實力。低檢測下限可達0.08µm ,在全球同類產(chǎn)品中都處于先地位結構。
大量程激光粒度儀A22的推出更適合,可以替代之前Fritsch公司所生產(chǎn)的緊湊型高效、微米型、大量程微米型激光粒度儀要素配置改革,讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效體系,使用更加便捷。
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